Development of Variable-Temperature Scanning-Probe-Microscope for High Magnetic Fields
(強磁場温度可変走査プローブ顕微鏡の開発)
The 14th International Conference on High Magnetic Fields in Sem. 2000年09月24日-2000年09月29日.
NIMS著者
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作成時刻: 2022-09-05 11:03:50 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:03:50 +0900