Local Atomic Image of 0.02% Zn in GaAs Wafers Using X-ray Holography
(Ｘ線ホログラフィ法によるガリウムひ素ウエハ中の０．０２％Ｚｎの局所構造の撮像)
48th Denver X-Ray Conference . 1999年08月02日-1999年08月06日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2022-09-05 11:03:13 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:03:13 +0900