全反射蛍光X線・散乱X線測定による薄膜界面の分析法に関する研究 | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Analysis of thin films interfaces by X-ray fluorescence and scattering using total reflection
(全反射蛍光X線・散乱X線測定による薄膜界面の分析法に関する研究)

桜井建次, 林好一, 福田雅典, 竹村モモ子, Luc Ortega, 山本公威, 中井泉, 青木貞雄, 後藤俊治.

Spring-8 Research Activity Report . 1998.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2022-09-05 10:52:19 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:52:19 +0900

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