HOME > その他の文献 > 書誌詳細Development and Application of a 300 kV Field Emission Analytical Transmission Electron MicroscopeBANDO, Yoshio, 北見喜三, KURASHIMA, Keiji, 富田健, 本田敏和, 石田征久. Microbeam Analysis 279. 1994.NIMS著者板東 義雄倉嶋 敬次Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:43:34 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:43:34 +0900
