Atomic Scale Investigation of Grain Boundaries and Defects in Bi-2223/Ag Tapes by Scanning Transmission Electron Microscopy
(Bi-2223/Ag超電導テープ中の結晶粒界および欠陥の高分解能走査透過電子顕微鏡観察)
NIMS著者
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作成時刻: 2020-11-20 10:40:57 +0900 更新時刻: 2020-11-20 10:40:57 +0900