STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF THE MONOLAYER AND REGULARLY-STACKED MULTILAYERS OF SILVER NANOPARTICLES BY USING X-RAY REFLECTI
(銀ナノ粒子を分散させた単分子膜および積層膜のX線反射率法による構造研究)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2022-09-05 11:04:57 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:04:57 +0900