HOME > その他の文献 > 書誌詳細Sapphire基板上のBismuth薄膜の熱伝導率と界面熱抵抗の測定(Thermal conductivity and interfacial thermal resistance measurement of bismuth film deposited on sapphire substrate)加藤 良三, 徐 一斌. 第29回日本熱物性シンポジウム予稿集 378-380. 2008.NIMS著者徐 一斌Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 12:09:32 +0900更新時刻: 2022-09-05 12:09:32 +0900