SAMURAI - NIMS Researchers Database

NIMS Awardシンポジウム2026

HOME > その他の文献 > 書誌詳細

High-resolution electron microscopy observation of grain-boundary films in superplastically deformed silicon nitride

ZHAN, GuoDong, 三友護, 幾原雄一, 佐久間健人.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2022-09-05 10:56:48 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:56:48 +0900

      ▲ページトップへ移動