HOME > その他の文献 > 書誌詳細The microstructural analysis of SiC nanorods by high-resolution electron microscopyGAO, Yihua, BANDO, Yoshio, KURASHIMA, Keiji, 佐藤忠夫. JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 641-649. 2000.NIMS著者板東 義雄倉嶋 敬次Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 11:01:08 +0900 更新時刻: 2022-09-05 11:01:08 +0900
