HOME > その他の文献 > 書誌詳細X-RAY REFLECTIVITY OF Gd THIN FILMS DEPOSITED ON Si WAFER(Siウェハ上に蒸着したGd薄膜のX線反射率)EBA, Hiromi, 桜井健次, 桜井健次. Photon Factory Activity Report, High Energy Accelerator Research Organization, KEK 17 . 1999.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2020-11-20 10:35:45 +0900 更新時刻: 2020-11-20 10:35:45 +0900
