HOME > Misc > Detailアトムプローブ電界イオン顕微鏡(Atom Probe field Ion Microscopy)村上 秀之. 池谷科学技術振興団助成「ヘテロの構造」の定量解析手法 報告書 78-86. 1995.NIMS author(s)Fulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2020-11-20 10:37:04 +0900 Updated at: 2020-11-20 10:37:04 +0900
