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[論文紹介] 液体ビス(エチルシクロペンタジエニル)スズを用いた多結晶酸化スズ膜の原子層堆積

Atomic Layer Deposition of Polycrystalline Tin Dioxide Thin Films Using Liquid Bis(ethylcyclopentadienyl)tin

Fumikazu MIZUTANI, Nobutaka TAKAHASHI, Toshihide NABATAME.
Journal of The Surface Finishing Society of Japan. . 2025. https://doi.org/10.4139/sfj.76.598

液体ビス(エチルシクロペンタジエニル)スズを用いた多結晶酸化スズ膜の原子層堆積

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液体ビス(エチルシクロペンタジエニル)スズ、Sn(EtCp)2を合成して、原子層堆積法(ALD)の原料として適した蒸気圧や230℃までの熱安定性など、いくつかの顕著な特性を示した。O2プラズマを酸化剤としたPEALDにより、SnO2薄膜を成膜した。成長温度200℃において、Sn(EtCp)2とO2プラズマのパルス時間10秒および45秒で自己制御反応が確認された。サイクル当たり成長速度(GPC)は0.20 nm/サイクルであり、従来の原料よりも高い値を示した。透過型電子顕微鏡の断面観察により、200℃で成膜したSnO2膜が均一かつ多結晶であった。X線回折分析により、この膜が(110)方位を優先成長した正方晶ルチル型SnO2構造を有することが分かった。Sn(EtCp)2は、低温でも化学量論組成・高純度・高結晶性を有する高品質SnO2薄膜の成膜に有望なALD原料である。

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