HOME > 論文 > 書誌詳細Direct observation of crack tip geometry of SiO2 glass by high-resolution electron microscopeBANDO, Yoshio, 伊藤節郎, 友沢稔. Jor.Am.Ceram.Soc. . 1984.NIMS著者板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:25:31 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:25:31 +0900
