HOME > 論文 > 書誌詳細Electron diffraction and high-resolution electron microscopy study of an amorphous Pd82Si18 alloy with nanoscale phase separatio(ナノ相分離を有するアモルファスPd82Si18合金の電子回折及び高分解能電顕解析)Tadakatsu Ohkubo, Yoshihiko Hirotsu. Physical Review B 67 [9] 094201. 2003.https://doi.org/10.1103/physrevb.67.094201 NIMS著者大久保 忠勝Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 11:54:55 +0900更新時刻: 2024-05-02 08:36:23 +0900