Application of Electron Beam Lithography to Study Microcreep Deformation and Grain Boundary Sliding
(微小クリープ変形と粒界すべりの計測・解析への電子線リソグラフィーの応用)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:36:40 +0900 更新時刻: 2026-11-04 06:46:14 +0900