SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

In situ high-temperature X-ray observation of crystallization during the fabrication of non-silica(20ZnO 80TeO2) glass-preform of optical devices.
(光学デバイス用非シリケートプリフォーム作製の過程で生じる結晶化の高温X線その場観察)

Akihiko NUKUI, Shin-ichi TODOROKI, Masaaki MIYATA, Yoshio BANDO.
Journal of Advanced Science 13 [3] 367-370. 2001.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻 :2016-05-24 11:55:16 +0900 更新時刻 :2022-09-05 11:19:28 +0900

      ▲ページトップへ移動