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著者名Y. Xu, R. Gwoziecki, R. Coppard, M. Benwadih, T. Minari, K. Tsukagoshi, J. A. Chroboczek, F. Balestra, G. Ghibaudo.
タイトルDiagnosis of low-frequency noise sources in contact resistance of staggered organic transistors
掲載誌名Applied Physics Letters 98 [3] 033505
ISSN: 00036951 0168583X 10773118
発表年2011
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.3544583
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