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Enhancement of Intragrain Critical Current Density in Bi-Based Superconductor by Substitutional Structural Defects
(Bi系超伝導体に導入した置換型格子欠陥による粒内の臨界電流密度の増強)

H. Tanaka, H. Yoshikawa, C. Tsuruta, Y. Matsui, S. Kishida.
IEEE Transactions on Applied Superconductivity 21 [3] 3203-3205. 2011.
https://doi.org/10.1109/tasc.2010.2095492

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      作成時刻: 2016-05-24 16:43:41 +0900更新時刻: 2024-04-02 03:14:49 +0900

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