HOME > 論文 > 書誌詳細A 400KV high resolution-analytical electron microscope newly constructedBANDO, Yoshio, 松井良夫, 北見喜三, 猪股吉三, 井部克彦, 本田敏和, 原田嘉晏. Jap.J.Appl.Phys. 412. 1984.NIMS著者板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:25:30 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:25:30 +0900
