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多孔質シリコン層中の化学結合に及ぼす室温エージングの影響
(Room-temperature aging effects on porus silicon layer chemical bonds)

福田芳雄, 古屋一夫, 古屋一夫, 福田芳雄, 古屋一夫, 古屋一夫.
表面技術 49 [1] 63-67. 1998.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2016-05-24 11:38:21 +0900更新時刻: 2018-12-14 22:30:05 +0900

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