HOME > 論文 > 書誌詳細Positron beam study of defects induced in Ar-implanted Si(陽電子ビームによるArイオンを注入したSi中の欠陥の研究)宮越達三, 藤浪真紀, 澤田嗣郎, 鈴木良一, 大平俊行, AKAHANE, Takashi. MATERIALS SCIENCE FORUM 150-152. 2004.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-15 00:40:57 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:40:57 +0900
