HOME > 論文 > 書誌詳細(A new omega filter electron microscope at 300 keV)板東義雄, 三留 正則, 北見喜三, 倉嶋 敬次, 金山俊克, 大蔵善博, 成瀬幹夫, 板東義雄, 北見喜三, 金山俊克, 大蔵善博, 成瀬幹夫. Microscopy of semiconducting materials 41-44. 2001.NIMS著者三留 正則倉嶋 敬次Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-11-15 00:39:54 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:39:54 +0900
