HOME > 論文 > 書誌詳細Reply on Direct Observation of Crack Tip Geometry of SiO2 Glass by High Resolution Electron Microscopy友沢稔, BANDO, Yoshio, 伊藤節郎. Jr.Am.Ceram.Soc. 254. 1984.NIMS著者板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:26:12 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:26:12 +0900
