TEM-EELSによる電子状態分析
(Electronic structure analyses using electron energy-loss spectroscopy in transmission electron microscopy)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 14:42:53 +0900更新時刻: 2024-04-01 17:38:28 +0900