Mixed-Conduction Hall-Effect Analysis of High-Temperature Intrinsic Carrier Transport in p-Type Te-Doped Sn(Se <sub> 1– <i>x</i> </sub> Te <sub> <i>x</i> </sub> ) Polycrystals | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Mixed-Conduction Hall-Effect Analysis of High-Temperature Intrinsic Carrier Transport in p-Type Te-Doped Sn(Se _{1–
x} Te _x ) Polycrystals

Takayoshi Katase, Haoyun Zhang, Xinyi He, Shigenori Ueda, Toshio Kamiya.

The Journal of Physical Chemistry C 130 [23] 8143-8149. 2026.

https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.6c01470

NIMS著者

上田茂典

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2026-07-10 03:06:13 +0900 更新時刻: 2026-09-13 04:32:47 +0900

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