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ダブルX線源X線光電子分光分析法
(X-Ray Photoelectron Spectroscopy with Al and Cr K Alpha X-ray Source)

山本 哲也, 野本 淳一, 牧野 久雄, 岩井 秀夫, 小林 啓介.
表面技術 66 [12] 608-613. 2015.
https://doi.org/10.4139/sfj.66.608
Open Access 一般社団法人 表面技術協会 (Publisher)

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    作成時刻: 2016-05-24 18:02:29 +0900更新時刻: 2024-03-29 18:01:42 +0900

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