HOME > 論文 > 書誌詳細ダブルX線源X線光電子分光分析法(X-Ray Photoelectron Spectroscopy with Al and Cr K Alpha X-ray Source)山本 哲也, 野本 淳一, 牧野 久雄, 岩井 秀夫, 小林 啓介. 表面技術 66 [12] 608-613. 2015.https://doi.org/10.4139/sfj.66.608 Open Access 一般社団法人 表面技術協会 (Publisher) NIMS著者岩井 秀夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 18:02:29 +0900更新時刻: 2025-02-09 04:15:07 +0900