HOME > 論文 > 書誌詳細Structural characterization of Eu-doped GaN by transmission electron microscopy(透過電子顕微鏡によるEuドープGaNの構造解析)Seo Jongwon, Chen Shaoqiang, J Sawahara, MITOME, Masanori, K Akimoto. JOURNAL OF CERAMIC PROCESSING RESEARCH 9 [1] 68-70. 2008.NIMS著者三留 正則Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 15:29:36 +0900 更新時刻: 2018-12-15 00:33:08 +0900
