アトムプローブFIMによるサブナノメータ分析
(Subnanometer scale microstructural characterization by an atomprobe FIM)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2016-05-24 11:38:03 +0900更新時刻: 2018-12-14 22:29:21 +0900