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著者名Dmitri Golberg, Yoshio Bando.
タイトルIN-SITU TEM OF FILLED NANOTUBES: HEATING, ELECTRON IRRADIATION, ELECTRICAL AND MECHANICAL PROBING
掲載誌名In-Situ Electron Microscopy at High Resolution 187-227
発表年2008
言語English
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1142/9789812797346_0006
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