Dual Ion Beam Irradiation System Interfaced with a Transmission Electron Microscope and the Observation of Defect Evolution in N | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Dual Ion Beam Irradiation System Interfaced with a Transmission Electron Microscope and the Observation of Defect Evolution in N
(水素イオン及びアルゴンイオン照射によってニッケル中に導入された二次欠陥の高分解能電顕観察)

石川信博, 古屋一夫, 古屋一夫.

Ultramicroscopy 211-215. 1994.

NIMS著者

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作成時刻: 2022-11-15 00:39:01 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:39:01 +0900

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