An Application of the JEM-4000EX High Resolution Analytical Electron Microscope：Anwendung des hochauflosenden analytischen Elek | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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(An Application of the JEM-4000EX High Resolution Analytical Electron Microscope：Anwendung des hochauflosenden analytischen Elek)

BANDO, Yoshio, 松井良夫, 北見喜三, 猪股吉三.

Practical Metallography：Praktische Metallographie 563. 1986.

NIMS著者

板東義雄

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2022-09-05 10:28:09 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:28:09 +0900

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