Cross-Sectional High-Resolution Transmission Electron Microscope studies of Superconducting Oxide Thin Films of Bi-System.
(Bi-系超電導酸化物薄膜の断面の高分解能透過電子顕微鏡による研究.)
NIMS著者
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作成時刻: 2016-05-24 11:31:46 +0900 更新時刻: 2026-10-27 04:15:22 +0900