SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

The yield strength of thin copper films on Kapton

Denis Y. W. Yu, Frans Spaepen.
Journal of Applied Physics 95 [6] 2991-2997. 2004.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2022-12-19 12:42:01 +0900 更新時刻 :2022-12-19 12:42:01 +0900

    ▲ページトップへ移動