HOME > 論文 > 書誌詳細The yield strength of thin copper films on KaptonDenis Y. W. Yu, Frans Spaepen. Journal of Applied Physics 95 [6] 2991-2997. 2004.https://doi.org/10.1063/1.1644634 NIMS著者ユ ヤウワイ デニスMaterials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-12-19 12:42:01 +0900 更新時刻: 2026-09-29 07:29:07 +0900
