Analytical ultrahigh-vacuum transmission electron microscopy applied to the study of Pd2Si island formation on Si (111) surfaces | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Analytical ultrahigh-vacuum transmission electron microscopy applied to the study of Pd2Si island formation on Si (111) surfaces
(分析型超高真空透過電子顕微鏡法によるSi(111)表面上Pd2Siアイランド形成の研究への応用)

TAKEGUCHI, Masaki, TANAKA, Miyoko, 保田英洋, FURUYA, Kazuo.

Journal of surface and interface analysis 68-72. 2001.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2022-09-05 11:01:35 +0900更新時刻: 2022-09-05 11:01:35 +0900

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