Low-energy electron point source microscope as a tool for transport measurements of free-standing nanometer-scale objects | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

停電によるサービス停止のお知らせ（2026年10月31日～11月1日） (2026-10-29)

HOME > 論文 > 書誌詳細

Low-energy electron point source microscope as a tool for transport measurements of free-standing nanometer-scale objects
(投影顕微鏡によるナノメータースケール試料の測定)

P. Dorozhkin, H. Nejoh, D. Fujita, Pavel, Dorozhkin, NEJO, Hitoshi.

Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures 20 [3] 1044. 2002.

https://doi.org/10.1116/1.1481756

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:54:10 +0900 更新時刻: 2026-10-29 04:17:07 +0900

▲ページトップへ移動