Surface Analysis of Well-Aligned Carbon Nanotube Films by Positron-Annihilation Induced Auger-Electron Spectroscopy and Coincide | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Surface Analysis of Well-Aligned Carbon Nanotube Films by Positron-Annihilation Induced Auger-Electron Spectroscopy and Coincide
(陽電子消滅励起オージェ電子分光および同時計数ドップラー幅測定によるカーボンナノチューブ配向膜の表面分析)

T. Ohdaira, R. Suzuki, K. Kobayashi, AKAHANE, Takashi, L Dai, T. Ohdaira, R. Suzuki, K. Kobayashi, L Dai.

APPLIED SURFACE SCIENCE 291-295. 2002.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2022-11-15 00:40:13 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:40:13 +0900

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