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Sign reversal of the Hall resistivity in the electron-doped La2xCexCuO4 thin films
(電子ドープLa2xCexCuO4 薄膜におけるホール抵抗符号変化)

B.X. Wu, K. Jin, J. Yuan, H.B. Wang, T. Hatano, B. Xu, B.R. Zhao, B.Y. Zhu.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2018-06-08 21:29:55 +0900更新時刻: 2024-04-01 22:48:58 +0900

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