Coincidence Doppler broadening in defects induced by ion implantation to silicon and iron
(イオン照射されたシリコンおよび鉄中の欠陥に対する同時計数ドップラー幅測定)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2022-11-15 00:40:13 +0900 更新時刻: 2022-11-15 00:40:13 +0900