Low-energy ion scattering from the Si(111) surface:analysis of the clean 7*7 and Te-stabilized1*1 | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Low-energy ion scattering from the Si(111) surface:analysis of the clean 77 and Te-stabilized11

AONO, Masakazu, SOUDA, Ryutaro, 大島忠平, 石澤芳夫.

Nucl.Instrum.Methods 241. 1983.

NIMS著者

青野正和

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2022-09-05 10:25:16 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:25:16 +0900

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