Determination of local atomic displacements in CeO<sub>1−<i>x</i></sub>F<sub><i>x</i></sub>BiS<sub>2</sub>system | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Determination of local atomic displacements in CeO_1−xF_xBiS₂system
(Determination of local atomic displacements in CeO1−xFxBiS2 system)

E Paris, B Joseph, A Iadecola, T Sugimoto, L Olivi, S Demura, Y Mizuguchi, Y Takano, T Mizokawa, N L Saini.

Journal of Physics: Condensed Matter 26 [43] 435701. 2014.

https://doi.org/10.1088/0953-8984/26/43/435701

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作成時刻: 2016-05-24 17:39:17 +0900 更新時刻: 2026-10-08 05:48:47 +0900

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