Raman Scattering Characterization of Polytype in Silicon Carbide Ceramics: Comparison with X-ray Diffraction
(炭化ケイ素の多形のラマン散乱解析：X-線回折との比較)
NIMS著者
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作成時刻: 2016-05-24 11:57:05 +0900更新時刻: 2024-04-30 04:45:43 +0900