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著者名Bin Chen, Jun Chen, Takashi Sekiguchi, Mitsuhiro Saito, Koji Kimoto.
タイトルStructural characterization and iron detection at Σ3 grain boundaries in multicrystalline silicon
掲載誌名Journal of Applied Physics 105 [11] 113502
ISSN: 10897550 00218979
発表年2009
言語English
ESIでのカテゴリPHYSICS
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.3129583
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