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著者名Ivan Gutierrez-Urrutia.
タイトルB13-O-02Electron Channeling Contrast Imaging: A powerful technique to quantitative microstructure characterization in the SEM
掲載誌名Microscopy 64 [suppl 1] i32.1-i32
ISSN: 00220744, 14779986, 20505701, 20505698
出版社Oxford University Press (OUP)
発表年2015
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1093/jmicro/dfv114
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