Local structure analysis of Sb, Bi, and Ag dopant atoms in Mg<sub>2</sub>Si semiconductor by x-ray absorption spectroscopy and first-principles calculation | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

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Local structure analysis of Sb, Bi, and Ag dopant atoms in Mg₂Si semiconductor by x-ray absorption spectroscopy and first-principles calculation

Mamoru Kitaura, Shinta Wantanabe, Toshiaki Ina, Motoharu Imai, Haruhiko Udono, Manabu Ishizaki, Hisanori Yamane, Taku Tanimoto, Akimasa Ohnishi.

Journal of Applied Physics 130 [24] 245105. 2021.

https://doi.org/10.1063/5.0072589

NIMS著者

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作成時刻: 2022-01-19 03:00:37 +0900 更新時刻: 2026-10-30 08:04:48 +0900

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