SPEED法により作製したInGaAs量子ドットのTEM観察

間野高明; 塚本史郎; 小口信行; 藤岡洋; 尾嶋正治; C．D．Lee; J．Y．Leem; H．J．Lee; S．K．Noh; 塚本史郎; 藤岡洋; 尾嶋正治; C．D．Lee; J．Y．Leem; H．J．Lee; S．K．Noh; 間野高明; 塚本史郎; 小口信行; 藤岡洋; 尾嶋正治; C．D．Lee; J．Y．Leem; H．J．Lee; S．K．Noh; 塚本史郎; 藤岡洋; 尾嶋正治; C．D．Lee; J．Y．Leem; H．J．Lee; S．K．Noh

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Transmission Electron Microscope Study of InGaAs Quantum Dots Fabricated By SPEED Method
(SPEED法により作製したInGaAs量子ドットのTEM観察)

MANO, Takaaki, TSUKAMOTO, Shiro, KOGUCHI, Nobuyuki, 藤岡洋, 尾嶋正治, C．D．Lee, J．Y．Leem, H．J．Lee, S．K．Noh, 塚本史郎, 藤岡洋, 尾嶋正治, C．D．Lee, J．Y．Leem, H．J．Lee, S．K．Noh.

J. Korean Physical Society 38 [4] 401-404. 2001.

NIMS著者

間野高明

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:44:37 +0900更新時刻: 2018-12-15 01:45:51 +0900

Transmission Electron Microscope Study of InGaAs Quantum Dots Fabricated By SPEED Method(SPEED法により作製したInGaAs量子ドットのTEM観察)

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

Transmission Electron Microscope Study of InGaAs Quantum Dots Fabricated By SPEED Method
(SPEED法により作製したInGaAs量子ドットのTEM観察)