HOME > 論文 > 書誌詳細イオンミリング技法とウルトラミクロトーム(超薄切片)技法のラウンドロビンテスト－工業材料における電顕観察用薄膜作製技術の標準化－朝倉健太郎, 堀内繁雄, 広畑泰久, 平坂雅男. 電子顕微鏡 52-55. 1997.NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:49:08 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:49:08 +0900
