HOME > 論文 > 書誌詳細AESおよびXPS装置の発展と展望(Developments and Prospects of AES and XPS Instruments)岩井 秀夫. Journal of Surface Analysis 16 [2] 114-126. 2009.https://doi.org/10.1384/jsa.16.114 NIMS著者Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-05-24 15:53:03 +0900 更新時刻: 2026-09-02 04:38:21 +0900
