HOME > 論文 > 書誌詳細A Newly Developed 300KV Field-Emission Analytical Transmission Electron MicroscopeBANDO, Yoshio, 北見喜三, 富田健, 本田敏和, 石田征久. Japanese Journal Applid Physics 1704. 1993.NIMS著者板東 義雄Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2022-09-05 10:41:36 +0900 更新時刻: 2022-09-05 10:41:36 +0900
