In situ electrical measurements and manipulation of B/N-dopped C nanotubes in a high-resolution transmission electron microscope | 研究者総覧SAMURAI - 物質・材料研究機構 (NIMS)

HOME > 論文 > 書誌詳細

In situ electrical measurements and manipulation of B/N-dopped C nanotubes in a high-resolution transmission electron microscope
(Cをド－プしたBNナノチューブのTEMによる電気特性評価)

GOLBERG, Dmitri, MITOME, Masanori, KURASHIMA, Keiji, BANDO, Yoshio.

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 52 [2] 111-117. 2003.

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

作成時刻: 2016-05-24 11:57:40 +0900更新時刻: 2018-12-14 23:58:48 +0900

▲ページトップへ移動