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In-Situ Monitoring of Oxide Ion Induced Breakdown in Amorphous Tantalum Oxide Thin Film Using Acoustic Emission Measurement

Takashi Tsuchiya, Kaita Ito, Shogo Miyoshi, Manabu Enoki, Shu Yamaguchi.
MATERIALS TRANSACTIONS 55 [10] 1553-1556. 2014.

NIMS著者


    Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


      作成時刻: 2018-06-13 15:34:03 +0900 更新時刻: 2026-11-02 06:03:49 +0900

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